在半導體行業中,產線可大致分為「晶片製造」、「晶片封裝」及「晶片測試」三個環節,每個環節下都包含多個步驟。以製程核心「晶片製造」為例,僅此單個環節就包含從清洗、氧化至拋光、測試等十餘道步驟,工藝複雜,製程嚴密。任何一個步驟中的異動都會對整個生產環節造成影響,繼而波動最終的產出。因此,在整個生產流程中,廠區通常需要對多重維度下的關鍵指標進行嚴格監控,以保障生產效能及質量。
半導體作為高精製造的代表,是一個對數據高度依賴的行業,數據的即時獲取、準確利用以及高效反饋在製程中尤為重要。在半導體行業中,由於數據過於雜、難,許多管理階層為避免數據系統「牽一髮而動全身」,始終依賴「IT人力+廠區人工監控」的方式對產線進行管理,導致數據的反饋即時性較差,數據反饋不夠全面,增加「發現問題」至「解決問題」時間與範圍,有時可能會因此給生產線帶來風險。
由於需要保證生產狀況的穩定,傳統半導體行業通常透過「人工檢驗」的方式「持續觀察」生產環節是否有異動。一般情況下,當值班人員發現有指標出現異動時,會聯絡值班室進行相關處理。然後透過人力的方式對異動的監測存在較多不確定因素:
👉是否及時觀察到異常(如機台宕機等)?
👉是否及時傳達至相關技術單位、是否及時作出相應?
...諸如此類多數故障、環境、人為因素都可能影響問題處理。因此,引入數位監控,實現自動化數據預警及相應任務推送,最大程度降低風險,完成從「發現問題」至「處理問題」的高效率閉環,是半導體企業需要考慮的數位升級轉型之一。
本期將由帆軟資半導體顧問Terry帶來實際應用中的經驗分享,希望給各位聽眾帶來數據建設新思路。
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活動講師
Terry
台灣帆軟客戶成功經理
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